日置HIOKI发售FT3470-50磁场探测仪         

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日置HIOKI发售FT3470-50磁场探测仪         

时间:2018-12-25来源:日置 作者:HIOKI 点击:

 HIOKIzui新发售FT3470-50磁场探测仪         
对应2010年国际非电离辐射 防护委员会(ICNIRP)的国际准则。 

日置zui新发售FT3470-50磁场探测仪          ,适用于测量电力设备和家用电器放射出的磁场强度等领域。日置的磁场探测仪          自2006年4月推广以来,已经 赢得了一大批忠实的客户。在2010年国际非电离辐射 防护委员会宣布的磁场测量准则后,在原有产品的基础上研发了FT3470-50磁场探测仪          ,以应对zui新国际标准的变化 。FT3470-50磁场探测仪          的特点是符合2010年国际非电离辐射 防护委员会的准则,测量出具体的暴露 等级。用户可以根据自己的需要选择两个规格的传感器。简单的操作确保了即使是DIYI次使用的人也可以 自主操作,此仪器可用于测试不同规格,并且能够显示多级机组(T,A / M和G)。

FT3470-50磁场探测仪          磁场现场测量

近年来,专家们呼 吁关注电气设备和家用电器产生的磁场对健康的潜在影响,要求按照国际非电离辐射防 护委员会和国际电工委员会草拟的标准测量磁场。国际非电离辐射防 护委员会推出的zui新标准,为避免对 人体健康产生不良影响的角度来看,提供以下zui大磁场强度参考值 :

国际非电离辐射防 护委员会2010年参考值

 

  2010 年修订版 1998 年版本
电源频率(50/60 Hz) 200 mT (microteslas) 50 Hz: 100 mT60 Hz: 88.3 mT
中频(感应加热元件等 ) 27 mT 6.25 mT

 

日置zui早于2006年4月推出3470磁场探测仪          ,在2010年宣布推出的 FT3470-50磁场探测仪          符合国际非电离辐射防 护委员会2010年新标准

FT3470-50磁场探测仪          GAO级性能

  1. 暴露等级测量与 2010年国际非电离辐射 防护委员会规则一致。
    日置磁场探测仪          测量暴露等级,是以百分比表示的,符合国际非电离辐射防 护委员会参考值的仪器。FT3470-50串联探测仪符合 2010年国际非电离辐射 防护委员会更新的数据。
    例如:如果根据测 量物体发出了20μT磁场,(电源频率磁场 ),那暴露等级则为 10%,而2010年的zui新参考值为 200μT。
  2. 不同型号传感器的 不同应用
    日置提供了两个不 同型号的磁场传感器  。如下所述,客户可以选择zui适合自己手头运用 的型号:
    100 cm2的磁场传感器  : 标准传感器使用的 IEC / EN62233标准;标准船舶是 FT3470-51 和FT3470-52标准。
    3 cm2的磁场传感器  : 传感器能够精确的 分析测量目标的磁场分布;船舶是FT3470-52和 FT3470-55标准。
    日置的三轴传感器 具有X,Y,Z轴标签,它更加方 便确定目标磁场的方向。
  3. 测量使用多级机组 FT3470-50串联,可以测量以 下三个单位。根据不同的标准和规则,允许用于磁场测量方案。
    • T(特斯拉):磁通量的转换单 位
    • A/m(每米的安匝 )磁场强度的转换单 位
    • G(GAO斯):磁通量密度单位

FT3470-50磁场探测仪          组要规格

产品分档

 

磁通密度 10 Hz ~ 400 kHz / 10 Hz ~ 2 kHz / 2 kHz ~ 400 kHz(波段)
暴露等级 一般/专业
显示轴线 X/Y/Z单轴,复合真有效 值R(整体轴:X/Y/Z)
测量方法 真有效值
功能 磁通量单元转换 (T, A/m, G),减缓作用,峰值保 持,记忆函数(zui大值99个点),设定值备份,电 池检查
接口 USB 1.1
尺寸 100 (宽) ´ 150 (GAO) ´ 42 (厚) (mm)
重量 870 g (仅仪器)
参照标准 安规: EN 61010 (污染程度 2)
EMC: EN 61326, EN 61000-3-2, EN 61000-3-3
参考标准 JIS C1910:2004

磁通量详细说明 (用100 cm2个磁场传感器 )
 
测量轴 范围 测量方式 有效测量范围  精确度
X, Y, Z r0 10 Hz ~ 400 kHz
10 Hz ~ 2 kHz
2 kHz ~ 400 kHz
0.050 ~ 2.000 mT ±3.5% rdg.
±0.5% f.s. (in 10 Hz ~ 400 kHz 方式, from 50 Hz ~ 100 Hz)
r1 0.50 ~ 20.00 mT
r2 5.0 ~ 200.0 mT
r3 0.050 ~ 2.000 mT
R r0 10 Hz ~ 400 kHz
10 Hz ~ 2 kHz
2 kHz ~ 400 kHz
0.100 ~ 3.464 mT ±3.5% rdg.
±0.5% f.s. (in 10 Hz ~ 400 kHz 方式, from 50 Hz ~ 100 kHz)
r1 1.00 ~ 34.64 mT
r2 10.0 ~ 346.4 mT
r3 0.100 ~ 3.464 mT

暴露等级(一般,专业详细规 格)
 
测量轴 范围 有效测量范围  精确度
X, Y, Z r0 0.50% ~ 20.00% ±3.5% rdg. ±0.5% f.s. for 50 Hz ~ 1 kHz 平滑边缘
±5.0% rdg. ±0.5% f.s. for 1 kHz ~ 100 kHz 平滑边缘
r1 5.0% ~ 200.0%
R r0 1.00% ~ 34.64%
r1 10.0% ~ 346.4%

被定义为“平滑边缘”暴露等级探测技术 ,适用于时域评估的IEC / EN62233中描述2010年的ICNIRP发布的磁通密度。 这个水平可能会有所不同,从2010年的ICNIRP角频率GAO达3分贝。

 


日置HIOKI发售FT3470-50磁场探测仪          :http://www./xinpinshangshi/FT3470-50.html
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